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    设备详细介绍

    高密度等离子体硅刻蚀机

    Inductively Coupled Plasma Etching System for Silicon and Silicon Dioxide

    发布时间:2013-01-16 | 【打印】 【关闭】

     

       号:Plasmalab System 100 ICP180

       能:

    • 纳米硅刻蚀、深硅刻蚀、低温工艺、SOI工艺、SiO2刻蚀
        Si etching, Nano- Si etching, Deep Si etching, SOI etching, SiO2 etching
    • 刻蚀特征尺寸微米至百纳米;刻蚀深宽比可达10﹕1
        Micrometersdown to hundred nanometers; Depth to width ratio up to 10﹕1

    主要配置:

    • 载片(Wafers):直径100mm、50mm及小碎片 (up to 100 mm wafers)
    • 六路气体 (Gas lines):C4F8、SF6、CHF3、Ar、O2、PN2
    • 射频源(Sources):
        
      ICP源:3KW,13.56MHz (ICP180 power: 3kW, 13.56MHz)
        RF源:600W,13.56MHz (ICP RF power: 600W, 13.56MHz)
        LF脉冲源:300W,350~ 460 KHz (SOI power300W, 350 ~460 KHz)
    • 下电极(Lowerelectrode):直径240mm氦气背冷辅助冷却 (240mm with backside helium cooling)
    • 片台温度范围(Temperature range):
         冷却液工艺- 30~ 80 (HTR /Chiller : - 30℃~ 80℃  )
         液氮低温
      /加热工艺- 150~ 400 (Liquid nitrogen cryo-cooled / heated process: -150~ 400℃  ) 

    技术特点:

    • 低损伤刻蚀
        Low damage etching
    • 高速率SiO2刻蚀
        High rate etching of SiO2
    • 高速率各向异性Si刻蚀
        High rate anisotropic etching of Si